Firma Ocean Optics je předním výrobcem miniaturních vláknových spektrometrů. Od roku 1992, kdy byla u zrodu konceptu těchto systémů, vyvinula několik typů těchto spektrometrů

Je možnost vybrat si z několika předkonfigurovaných verzí nebo volbou jednotlivých komponent (vstupní štěrbina, mřížka, případně detektor a další) dosáhnout konfigurace přesně dle Vaší aplikace.

USB4000

miniaturní spektrometr pro základní obecná měření

Spektrální rozsah:	max. 650 nm
Rozsah detektoru:	200 – 1100 nm
Dynamický rozsah:	1300:1
Poměr signál/šum:	250:1
Rozlišení:	0,3 ~ 10nm FWHM
Nelinearita:	1%

USB2000+

varianta spektrometru USB4000 s odlišným detektorem, 2MHz A/D převodníkem a programovatelným mikrokontrolerem pro aplikace s nutností velmi rychlého snímání spektra.

HR4000

spektrometr vhodný pro náročnější aplikace. Delší optická dráha umožňuje dosáhnut vyššího rozlišení v porovnání s USB4000.

Spektrální rozsah:	max. 900 nm
Rozsah detektoru:	200 – 1100 nm
Dynamický rozsah:	1300:1
Poměr signál/šum:	250:1
Rozlišení:	0,02 ~ 8,4nm FWHM
Nelinearita:	1%

HR2000+

varianta spektrometru HR4000 s odlišným detektorem, 2MHz A/D převodníkem a programovatelným mikrokontrolerem pro aplikace s nutností velmi rychlého snímání spektra. Verze HR2000+ poskytuje umožňuje dosáhnout vyššího rozlišení proti USB2000+.

Jaz

unikátní modulární systém tvořený moduly které je možné skládat dle potřeb Vaší aplikace. Dostupné moduly:

• spektrometr
• display s klávesnicí
• ethernetové připojení a slot na paměťové SD karty
• baterie a slot na paměťové SD karty
• světelný zdroj UV-VIS
• světelný zdroj VIS-NIR
• světelný zdroj-Led

Tyto moduly umožňují vytvořit stand alone systém bez nutnosti připojení PC nebo externího zdroje. Elektronika umožňuje také spojit několik spektrometrů a vytvořit tak vícekanálový systém s velmi vysokým rozlišením.

Systém je díky své mobilitě vhodný např. pro biologické a chemické aplikace neboť umožňuje jednoduchým způsobem provádět měření přím v terénu (např. sledování znečištění vody/prostředí) nebo díky možnosti vzdáleného přístupu přes ethernetové připojení pro sledování procesů v průmyslu, kdy např. rozmístění několika modulů podél výrobní linky umožní přesně kontrolovat výrobní postupy.

Parametry samotného spektrometru:

Spektrální rozsah:	max. 650 nm
Rozsah detektoru:	200 – 1100 nm
Dynamický rozsah:	1300:1
Poměr signál/šum:	250:1
Rozlišení:	0,3 ~ 10nm FWHM
Nelinearita:	1%

QE65000

spektrometr pro aplikace s nízkou úrovní signálu. Spektrometr je osazen TE chlazeným detektorem, který poskytuje vysokou citlivost v UV oblasti (od 200nm) a vysokou kvantovou účinnost (až 92%). QE65000 je vhodný pro aplikace jako je např. fluorescence, Ramanovská spektrometrie a další.

Spektrální rozsah:	max. 825 nm
Rozsah detektoru:	200 – 1100 nm
Dynamický rozsah:	25000:1
Poměr signál/šum:	1000:1
Rozlišení:	0,14 ~ 7,7nm FWHM
Nelinearita:	1%
Detektor:	back-thinned 2D, CCD s aktivním chlazením
Kvantová účinnost:	až 92%
Kvantová účinnost na 300 nm:	40%

Maya

spektrometr s vysokou kvantovou činností, dynamickým rozsahem a vysokou citlivostí v UV. Tyto parametry z něj činí ideální nástroj pro měření v aplikacích s nízkou úrovní signálu a pro měření v UV oblasti. Obzvláště v UV oblasti rozšiřuje možnosti proti QE65000, neboť umožňuje měřit již od 165 nm.

Spektrální rozsah:	max. 900 nm
Rozsah detektoru:	165 – 1100 nm
Dynamický rozsah:	10000:1
Poměr signál/šum:	450:1
Rozlišení:	back-thinned 2D CCD
Nelinearita:	1%
Detektor:	back-thinned 2D, CCD s aktivním chlazením
Kvantová účinnost:	až 92%
Kvantová účinnost na 300 nm:	40%

NIRQUEST

spektrometr pro měření v IR oblasti

Spektrální rozsah:	max. 1600 nm
Rozsah detektoru:	900 – 2500 nm
Dynamický rozsah:	5000:1
Detektor:	lineární InGaAs detektor s aktivním chlazením

Spektrometrické systémy

R-3000

systém pro Ramanovskou spektrometrii

• integrovaný systém zahrnující excitační laser, spektrometr, optickou sondu a software
• Rozsah od 200 – 2700 cm-1 , rozlišení lepší než 10 cm^-1

NeoFox

systém pro měření koncentrace kyslíku

• jednoduchý a kompaktní systém vhodný pro běžnou kontrolu přítomnosti kyslíku
• možnost volby kyslíkových senzorů dle aplikace – viz

NanoCalc

systém pro měření tloušťky tenkých vrstev na základě reflexe/transmise.

• možnost měření tloušťky vrstev v rozsahu 10 nm až 250 m dle konfigurace systému
• rozlišení až 0,1 nm
• vhodné pro in situ a online měření
• vhodné pro měření např. tloušťky oxidových vrstev, fotorezistů a další polovodičové vrstvy. Dle možnost měření anti reflexní vrstvy a vrstvy na substrátech jako je ocel, hliník, mosaz, měď, keramika a plasty

SpecEl

elipsometrický systém.

• rozsah vlnových délek 380 – 780 nm (standardně) nebo 450 – 900 nm (volitelně)
• optické rozlišení 4 nm FWHM
• Možnost měřit současně až 32 vrstev
• Tloušťka vrstvy 1 – 5000 nm pro jednu transparentní vrstvu

PlasCalc

systém pro monitorování a kontrolu plazmatu

• možnost sledování emisí plazmatu v rozsahu 200 – 1100nm
• výstup pro kontrolu procesů (možnost nastavení limitů)
• vhodné pro aplikace jako je měření depozice tenkých vrstev, plasmatické leptání (plasma etching) a další