Nová postranní mikrosilová sonda pro nanotechnologie
LAO INFO

Nová postranní mikrosilová sonda pro nanotechnologie

15. 07. 2013 | Ing. Pavel Kořán | Produkty

Společnost FemtoTools rozšiřuje své portfolio produktů o novou postranní mikrosilovou sondu. Tato sonda je především vhodná pro aplikace, které vyžadují velmi přesné nastavení pozice senzoru vůči vzorku, protože díky diagonálnímu tvaru svého hrotu umožňuje mikroskopem shora pozorovat jak hrot sondy, tak místo vzorku.

Sonda je schopna měřit v rozsahu od 50 nN po 1mN tažné i kompresní síly, které jsou kolmé k ose sondy. Navíc umožňuje testovat rovinné mikroskopické objekty s limitovaným prostorem kolem vzorku, jako jsou například MEMS struktury v rovinně waferu nebo biologická vlákna.

Každá jednotlivá sonda je speciálně kalibrována a vykazuje velkou stabilitu měření. Díky těmto vlastnostem umožňuje provádět spolehlivá a opakovatelná měření.

FemtoTools dále nabízí klasické mikrosilové sondy, mikropinzety a další modulární systémy pro nanotechnologie, biologický výzkum a materiálové vědy.

Krátkou ukázku použití jednotlivých systému můžete shlédnout na následujícím videu nebo podrobněji prostudovat v sekci: Mikropinzety a mikrosilové sondy.