• NanoIR - topografie a IR spektroskopie v nm měřítku
  • LAO INFO

NanoIR - topografie a IR spektroskopie v nm měřítku

19. 02. 2013 | Ing. Jakub Ryba | Produkty

Systém SpeQuest, špičkový systém v oboru charakterizace kvantové účinnosti solárních článků , představuje zcela nové a velmi zajímavé funkce:

  • Více monochromatických zdrojů
  • Nový SW pro 3D zobrazení měření
  • Měření interní kvantové účinnosti (QE)
  • DC měření pro organické články

Poprvé lze v tomto systému použít spojení více monochromatických světelných zdrojů, což kombinuje vysoce stabilní halogenovou lampu s vysokým podílem UV záření z xenonového zdroje unikátně v jednom zařízení.

Nový software pro 3D zobrazování měření na různých pozicích se nazývá Current Mapper a s použitím počítačem řízeného XY stolu lze skenovat vzorky o rozměru 156x156mm jednou vlnovou délkou nebo v širokém pásmu spektra.

Další novinkou je měření vnitřní kvantové účinnosti (IQE - internal quantum efficiency) pro určení odrazu povrchu.

Další novinkou je měření vnitřní kvantové účinnosti (IQE - internal quantum efficiency) pro určení odrazu povrchu.

U některých organických článků není měření pomocí AC záření přesné, neboť hodnoty se mění podle frekvence. Proto jsou všechny systémy vybaveny režimem DC měření, dále je již delší dobu je k dispozici multi-barevná charakterizace stack článků.

Systém je dodáván se dvěma výkonnými LED diodami, halogenovým zdrojem a napájecím zdrojem pro předpětí až 10V. Vlnová délky LED diod jsou volitelné - v závislosti na aplikaci lze zvolit až 5 různých vlnových délek. Osvětlení i napájení jsou samozřejmě kontrolovány počítačem.

27.6.2011
Překlad: Ing. Miroslav Novák, novak@lao.cz
Zdroj: LOT-Oriel, Spektrum E13


Kategorie

Archiv newsletterů LAO Info RSS

LAO newsletter

AKTUÁLNÍ NEWSLETTER

LAO Science Info - 2/2015

Zobrazit